上面共講了八種氦質(zhì)譜檢漏方法。此外，還有許多種由上述八種方法演變而來的方法。這八種方法，從原理上看可歸納為噴吹法（內(nèi)探頭法）與吸入法（外探頭法），也可稱之為真空法與加壓法。

從實際應(yīng)用的角度來看，所有的檢漏方法也可歸納成測漏與找漏兩大類。

測量漏率的方法有：氦罩法、檢漏盒法、背壓法、累積法與選擇性抽氣法。這些方法適用于測量總漏率，也可用來測量局部位置與單個漏孔的漏率。

測量漏率時的誤差來源主要有： 

①校準(zhǔn)時標(biāo)準(zhǔn)漏孔所處的位置與被測漏孔的位置相距太遠(yuǎn)，使得進入檢漏儀的示漏氣體的氣量不等。

②所用標(biāo)準(zhǔn)漏孔的標(biāo)稱漏率值有誤差。

③檢漏儀的輸出指示與漏率間的關(guān)系不成線性。

④檢漏時進入被檢漏孔的示漏氣體的壓力和濃度和枝準(zhǔn)標(biāo)準(zhǔn)漏孔時進入標(biāo)準(zhǔn)漏孔的示漏氣體的壓力和濃度有所不同?；蛞驂毫εc濃度的數(shù)值都不能準(zhǔn)確給出而無法換算。

⑤校準(zhǔn)用的標(biāo)準(zhǔn)漏孔與被測漏孔的氣流特性不同。

當(dāng)容器的總漏率超過允許值而需要確定漏孔具體位置時，可再用噴吹法或吸嘴法找出漏孔的位置。

檢漏方法的靈活運用是很重要的，某些時候不一定非按照測漏、找漏的程序不可。有些部件如小器件的檢漏就可以同時完成測漏、找漏兩個步驟。在用氦質(zhì)譜檢漏儀進行檢漏之前z*好先用簡易方法進行粗檢。